半導體器件高可靠性測試實驗項目
發表日期:2023-09-04瀏覽:729
常有客戶前來咨詢東沃生產供應的TVS二極管是否能過高溫反向偏壓試驗。高溫反向偏壓試驗是高可靠性測試實驗項目之一,決定器件的穩定性和可靠性。東沃電子是一家專業的電路保護器件廠家,所生產供應的產品均符合行業標準。毋庸置疑,東沃電子TVS二極管能夠輕松過高溫反向偏壓試驗。除了高溫反向偏壓試驗之外,還有哪些高可靠性實驗項目呢?
1)耐焊接熱試驗(Solder Resistance Test):將器件引線浸入熔融的260℃土5℃的焊料中10土2S, 浸至距殼體1/16 土32處。
2)可焊性試驗(Solderability Test): 245℃士5℃,5秒。
3)拉力實驗(Pull Test):對引線施加1kg,保持10秒。
4)彎曲實驗(Bend Test):用0.5kg力對引線進行90土5度彎曲,共3次。
5)高溫反向偏壓試驗(High Temperature Reverse Bias Test):在100℃的情況下,施加80%額定電壓,1000小時(OJ);在125℃的情況下,施加80%額定電壓,1000小時(GPP)。
6)正向壽命實驗(Forward Operation Life Test):在25℃的情況下,通入額定電流,1000小時。
7)間歇工作壽命實驗(Intermittent Operation Life Test):開態:額定功率5分鐘;關態:冷風吹5分鐘,共1000循環。
8)高壓蒸煮試驗(Pressure Cooker Test),設定溫度下 24 小時。
9)溫度循環試驗(Temperature Cycling Test):在-55℃/+155℃下,保持 30 分鐘,轉換時間 5 分鐘,共 20 個循環。
10)熱沖擊試驗(Thermal Shock Test): 0℃ /5 分鐘,100℃ /5 分鐘,共 10 循環。
11)正向浪涌試驗(Forward Surge Test):8.3毫秒單向正弦半波。
12)恒溫恒濕試驗(Humidity Test):85℃, 85%相對濕度,1000小時。
13)高溫存儲壽命試驗(High Temperature Storage Life Test):150℃,1000小時。
詳情參考文獻:MIL-STD-750D。關于半導體器件高可靠性實驗項目知識就分享到這兒,想了解具體信息,可咨詢東沃電子:137 5773 6996(微信同號)余工。